X熒光光譜儀采用的三大定律介紹
X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。
X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。
X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？
1、莫塞萊定律
莫塞萊定律是反應(yīng)各個元素X射線特征光譜規(guī)律的一種實驗定律，依靠莫塞萊定律進行分析的方式也是可靠的方法之一。X熒光光譜儀在對材料進行分析時也會使用到這一定律，在分析時光譜儀能夠?qū)?nèi)層電子的躍遷產(chǎn)生的、表明X射線特征的光譜和原子序數(shù)一一對應(yīng)起來，從而獲得分析結(jié)果。
2、布拉格定律
該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導定律，同時，布拉格定律是光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光*分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。
3、比爾-朗伯定律
比爾-朗伯定律是反應(yīng)樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。
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