X射線熒光光譜儀的測(cè)試步驟是什么？
X射線熒光光譜儀是基于X射線的一種分析手段，當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，形成一個(gè)空穴使原子處于激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，躍遷時(shí)釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。
X熒光具有特征的波長(zhǎng)，對(duì)應(yīng)的即是特征的能量，通過(guò)對(duì)光子的特征波長(zhǎng)進(jìn)行辨識(shí)，XRF能實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的定性分析，通過(guò)探測(cè)特征波長(zhǎng)的X射線光子的強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。
X射線熒光光譜儀的測(cè)試步驟如下：
1、選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，本司常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法測(cè)試。
2、將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯，放入樣品交換器中，自動(dòng)進(jìn)樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級(jí)X射線照射樣品，激發(fā)出待測(cè)元素的熒光X射線。
3、樣品輻射出的熒光X射線通過(guò)分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測(cè)器測(cè)量各譜線的強(qiáng)度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測(cè)元素含量。
X射線熒光光譜儀的工作原理是由X光管發(fā)射的原級(jí)X射線入射到樣品上 ，樣品元素受激發(fā)射出熒光X射線，并與原級(jí)X射線的散射線一起，通過(guò)準(zhǔn)直器(索勒狹縫)，以平行方式投射到晶體表面，按布拉格條件發(fā)生衍射，衍射的X射線與晶體散射線一起。
并通過(guò)次級(jí)準(zhǔn)直器（稱探測(cè)器準(zhǔn)直器）進(jìn)入探測(cè)器，進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，把不可直接測(cè)量的光子轉(zhuǎn)變成為可以測(cè)量的電信號(hào)脈沖。探測(cè)器的輸出脈沖經(jīng)放大器幅度放大和脈沖高度分析器的幅度甄別后，即可通過(guò)定標(biāo)器和進(jìn)行測(cè)量由計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，輸出結(jié)果。
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