電鍍廠用測(cè)厚儀是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。
X射線(X-ray)檢測(cè)儀是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光,快速檢測(cè)出被檢物。
鍍層測(cè)量儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器,測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating))。 覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
電鍍廠用測(cè)厚儀鍍層測(cè)量儀,顧名思義,測(cè)量金屬鍍層厚度的儀器
有些膜厚儀采用了磁性測(cè)厚法,是一種超小型測(cè)量儀,它能快速,無損傷,精確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂.電鍍層厚度的測(cè)量.可廣泛用于制造業(yè),金屬加工業(yè),化工業(yè),商檢等檢測(cè)領(lǐng)域.特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量.
有些膜厚儀采用二次熒光法,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。
選擇條件
在生產(chǎn)過程中如何選擇膜厚儀呢?
首先取決于你所測(cè)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu).如果只是簡單的涂層,銅箔使用普通的膜厚儀就可以解決了.如銅箔測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀.
如果測(cè)量多層金屬鍍層,目前的方式:X-ray鍍層測(cè)量法原理:
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長為0.000001 m (1μm)左右,X射線比其短為0.1m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)左右。
對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過X射線
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品。
管理表面鍍層鍍層厚度測(cè)定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測(cè)定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)
日本精工電子有限公司(Seiko Instruments Inc.簡稱SII),于1978年于其他廠商,研究開發(fā)出日本*臺(tái)熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀-SFT155。經(jīng)過二十多年的努力,現(xiàn)在的熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀能夠準(zhǔn)確地測(cè)量微小面積的鍍層厚度?,F(xiàn)已為*電子零部件、印刷電路板、汽車零部件等相關(guān)廠商提供了5000臺(tái)以上的測(cè)量儀,深受用戶的依賴與好評(píng)。從此,“SFT”幾乎成為鍍層厚度測(cè)量儀的代名詞。
隨著市場(chǎng)競爭的愈加激烈及產(chǎn)品更新?lián)Q代的加快,客戶需求也日新月異。為了迎接新世紀(jì)的挑戰(zhàn),本公司在SFT9000系列的基礎(chǔ)上又推出更高性能的SEA5000系列儀器,更加充實(shí)了熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀的應(yīng)用領(lǐng)域。
*可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量,避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外,適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
*備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
Thick800A測(cè)厚儀是一款X射線熒光光譜儀,致力于金屬電鍍層的厚度測(cè)量,測(cè)量精度達(dá)到5%以內(nèi),zui薄測(cè)試0.005微米,*可以滿足企業(yè)的測(cè)試要求。
電鍍廠用測(cè)厚儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè),注冊(cè)資本23088萬。旗下?lián)碛斜本┌铞蝹I(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家全資子公司??偛课挥陲L(fēng)景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業(yè)從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)X熒光測(cè)厚儀,液相色譜質(zhì)譜儀(LCMS),電子產(chǎn)品環(huán)保測(cè)試儀,五金鍍層測(cè)厚儀,x射線測(cè)厚儀,ROHS檢測(cè)儀,手持式ROHS光譜儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,環(huán)保八大重金屬測(cè)試儀,X熒光鍍層測(cè)厚儀,重金屬xrf檢測(cè)儀,ROHS元素分析儀,手持式合金分析儀,ROHS檢測(cè)設(shè)備,,五金鍍層測(cè)量儀,ROHS分析儀,天瑞ROHS儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,天瑞環(huán)保ROHS分析儀。
公司被授予 “國家火炬計(jì)劃重點(diǎn)優(yōu)良企業(yè)”,“江蘇省優(yōu)良企業(yè)”,“江蘇省軟件企業(yè)”,“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”,“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)重點(diǎn)軟件企業(yè)”,“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽(yù)稱號(hào)。產(chǎn)品具有的技術(shù)水平,X熒光光譜儀系列(ROHS光譜儀)產(chǎn)品被認(rèn)定為“國家重點(diǎn)新產(chǎn)品”和“江蘇省產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種齊全,為環(huán)境保護(hù)與安全、工業(yè)測(cè)試與分析及其它領(lǐng)域提供專業(yè)解決方案。
天瑞儀器將以“行業(yè)技術(shù)*”的姿態(tài),不斷探究世界分析領(lǐng)域的。為客戶提供更加良好的產(chǎn)品和更加滿意的服務(wù),同時(shí)為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案,從而推動(dòng)中國經(jīng)濟(jì)快速化。