X射線鍍層膜厚測量儀是一種功能強大的金屬鍍層測量儀器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析,是線路板...
產(chǎn)品介紹
X射線鍍層膜厚測量儀是一種功能強大的金屬鍍層測量儀器,同時可以測試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測5層,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析,是線路板,五金電鍍,首飾,連接器,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
技術指標
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
部分產(chǎn)品
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廠家優(yōu)勢
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