鋁合金鍍鋅鎳合金Thick800a測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
Thick8000型鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀
鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
參數(shù)規(guī)格
1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U);
2.同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層;
3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV;
6.良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm;
7.樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭;
8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合;
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um;
性能特點(diǎn)
1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái);
2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng);
3.良好的圖像識(shí)別;
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè);
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換;
6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞;
7.采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度。
安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
儀器配置
1 硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開放式樣品腔 (8)雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)
計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))
4 資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。
Thick600型鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀
鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
樣品測(cè)試步驟
1) 每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick”:
用戶使用“Administrator”,密碼:skyray
2) 進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件”
點(diǎn)擊“確定”,即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)
3) 選擇“工作曲線”
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推
4) 放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。
5) 待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品,通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”,輸入樣品名稱后“確定”。
6) 測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。
注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。